我們在介紹印刷分光密度儀主要特色的時候，就講過印刷密度儀是45/0幾何光學(xué)結(jié)構(gòu)，符合 CIE No.15，支持ISO 13655標準規(guī)定的MO,M1，M2,M3測試條件，能夠準確實現(xiàn)各種印刷密度、疊印率等印刷參數(shù)測量?？删烤故裁词菐缀喂鈱W(xué)結(jié)構(gòu)呢？

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這首先得從幾何光學(xué)說起，幾何光學(xué)是指以光線為基礎(chǔ)，研究光傳播和成像規(guī)律的一種學(xué)科。即光源發(fā)出的光線可以看做是無數(shù)幾何光線的集合（注意此處是近似于波動光學(xué)，作為研究解決光學(xué)技術(shù)問題的簡便方法），光線的方向代表著光的傳播方向，在這種環(huán)境設(shè)定下，可以研究光線通過光學(xué)元件的規(guī)律和方法，以及最終應(yīng)用于光學(xué)儀器的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計、生產(chǎn)和制造。
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0/45度光學(xué)結(jié)構(gòu)

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幾何光學(xué)在光學(xué)儀器中的應(yīng)用，讓我們制造出給種各樣的光學(xué)儀器，例如分光測色儀、色差儀、印刷分光密度儀、光澤度儀、霧度儀等等，不同的光學(xué)儀器具有不同的幾何光學(xué)結(jié)構(gòu)。幾何光學(xué)結(jié)構(gòu)可以看做為幾何光學(xué)從設(shè)計光線的方向路徑到光學(xué)元件及整個光學(xué)系統(tǒng)的構(gòu)成，是光學(xué)儀器最基礎(chǔ)、最核心的設(shè)計。一款光學(xué)儀器性能如何，光源的質(zhì)量、采用的幾何光學(xué)結(jié)構(gòu)、光電轉(zhuǎn)換顯示系統(tǒng)都有很大的影響。不同應(yīng)用環(huán)境下的光學(xué)儀器，幾何光學(xué)結(jié)構(gòu)也是不同的，例如大部分的光澤度儀都是20°、60°、80°的光學(xué)結(jié)構(gòu)，部分采用45°和75°。
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45/0度光學(xué)結(jié)構(gòu)

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密度儀的幾何光學(xué)結(jié)構(gòu)，主要為CIE推薦的45/0°幾何光學(xué)照明條件下（45/0°環(huán)形照明光學(xué)條件，符合ISO 5-4標準）。印刷分光密度儀的幾何光學(xué)結(jié)構(gòu)主要有45/0°及0/45°兩種，但目前較為流行且被CIE推薦的是45/0°幾何光學(xué)照明條件。這兩種即可光學(xué)結(jié)構(gòu)的區(qū)別是：

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0°/45°幾何光學(xué)結(jié)構(gòu)是以被測樣品表面的法線為基準，光源在0°位置，即入射光線垂直于樣品表面；光線的接收器在與樣品表面法線左右呈45°角的位置，即接收器接收45°位置的反射光。為了減少不均勻性反射帶來測量穩(wěn)定性的影響，這類光學(xué)儀器通常會有多個45°位置接收器環(huán)形排列。例如0°/45°幾何光學(xué)結(jié)構(gòu)的分光光度儀測量數(shù)據(jù)與人眼目視觀察的結(jié)果很接近，即測量數(shù)據(jù)與目視結(jié)果匹配性高。而45/0°幾何光學(xué)結(jié)構(gòu)正好相反，光線的傳播過程也是逆向的。

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在使用印刷分光密度儀時，我們需要注意，密度儀幾何光學(xué)結(jié)構(gòu)相同，并不代表光學(xué)系統(tǒng)性能相同。密度儀測量口徑大小不同也影響著測量結(jié)果，通常密度儀在印刷行業(yè)中常用的測量口徑是2mm，而測量口徑不是越大越好，因為測量口徑越大，對油墨覆蓋的面積要求也就越大，而這對于印刷行業(yè)來說，測量口徑太大使用時會有較大的限制。

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